Reliability study of high brightness leds under high frequency switching current and thermal cycling condition
With the development in Visible Light Communication (VLC), and LED is a key component in that system, study the reliability of LED under power cycling and thermal cycling becomes a popular project around the world. In this project, by understanding and summarizing lots of previous researches in L...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Wang, Kai |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Tan Cher Ming |
التنسيق: | Final Year Project |
اللغة: | English |
منشور في: |
2014
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10356/61425 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |
مواد مشابهة
-
Highly reflective metallic thin films for high brightness LEDs
بواسطة: Bay, Yang Jie
منشور في: (2017) -
Highly reflective metallic thin films for high brightness LEDs
بواسطة: Zheng, Bo
منشور في: (2018) -
Reliability study on SSL under high speed switching condition
بواسطة: Tan, Guanhong.
منشور في: (2012) -
Ensuring accuracy in optical and electrical measurement of ultra-bright LEDs during reliability test
بواسطة: Chen, Sihan Joseph, وآخرون
منشور في: (2013) -
High frequency drain current noise modeling in MOSFETs under sub-threshold condition
بواسطة: Chan, Lye Hock, وآخرون
منشور في: (2010)