Residual stress measurement in thin films at sub-micron scale using Focused Ion Beam milling and imaging

10.1016/j.tsf.2011.10.211

محفوظ في:

التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون:	Song, X., Yeap, K.B., Zhu, J., Belnoue, J., Sebastiani, M., Bemporad, E., Zeng, K., Korsunsky, A.M.
مؤلفون آخرون:	MECHANICAL ENGINEERING
التنسيق:	مقال
منشور في:	2014
الموضوعات:	Digital image correlation Focused Ion Beam Residual stress Strain relief function
الوصول للمادة أونلاين:	http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/61229
الوسوم:	إضافة وسم لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة:	National University of Singapore

مواد مشابهة