Influence of Pt in a Ti-Al-Pt-Au ohmic contact on n-type GaN
10.1002/(SICI)1521-396X(199911)176:13.0.CO;2-F
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Kachwalla, Z., Wiggins, J.W., Chua, S.J., Wang, W. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL ENGINEERING |
التنسيق: | مقال |
منشور في: |
2014
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/80598 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Surface Modification and Ohmic Contact Formation to n and p-Type GaN
بواسطة: Choi, H.W., وآخرون
منشور في: (2014) -
Formation of Ti/Al ohmic contacts on Si-doped GaN epilayers by low temperature annealing
بواسطة: Tan, L.S., وآخرون
منشور في: (2014) -
AlGaN/GaN high electron mobility transistors with implanted ohmic contacts
بواسطة: Wang, H.T., وآخرون
منشور في: (2014) -
Effects of plasma surface treatment on ohmic contact to n-GaN
بواسطة: Chor, E.F., وآخرون
منشور في: (2014) -
Non-gold ohmic contact for GaN-on-Si HEMT
بواسطة: Zhuang, Yihao
منشور في: (2023)