Time-domain thermoreflectance characterization of semiconductor nano/microstructures for power electronic devices
Time-domain thermoreflectance (TDTR) is a versatile laser-based pump-probe technique used to measure thermal properties of thin film structures with high accuracy. Parameters of interest are extracted by fitting a simulated thermoreflectance response to the experimentally measured signal. The main r...
محفوظ في:
| المؤلف الرئيسي: | |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | Final Year Project |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
Nanyang Technological University
2023
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/166521 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
| المؤسسة: | Nanyang Technological University |
| اللغة: | English |