Determination of diffusion lengths with the use of EBIC from a diffused junction with any values of junction depths

Minority carrier diffusion lengths determine the performance of bipolar and photodiode devices. An electron-beaminduced-current (EBIC) method has been widely used to extract this parameter. The extraction of the diffusion lengths involves a p-n junction to collect the minority carriers. The most use...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Ong, Vincent K. S., Kurniawan, Oka.
مؤلفون آخرون: School of Electrical and Electronic Engineering
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: 2009
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/84920
http://hdl.handle.net/10220/4658
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Nanyang Technological University
اللغة: English

مواد مشابهة