Determination of diffusion lengths with the use of EBIC from a diffused junction with any values of junction depths
Minority carrier diffusion lengths determine the performance of bipolar and photodiode devices. An electron-beaminduced-current (EBIC) method has been widely used to extract this parameter. The extraction of the diffusion lengths involves a p-n junction to collect the minority carriers. The most use...
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , |
|---|---|
| مؤلفون آخرون: | |
| التنسيق: | مقال |
| اللغة: | English |
| منشور في: |
2009
|
| الموضوعات: | |
| الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/84920 http://hdl.handle.net/10220/4658 |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
| المؤسسة: | Nanyang Technological University |
| اللغة: | English |