Experimentally-based analytical model of deep-submicron LDD pMOSFET’s in a Bi-MOS hybrid-mode environment

The hybrid-mode operation of deep-submicron LDD pMOSFET’s has been investigated experimentally. Based on the experimental results, analytical models for the threshold voltage, the device currents, the transconductance, and the output conductance were derived. The various current components in this m...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Rofail, Samir S., Yeo, Kiat Seng
مؤلفون آخرون: School of Electrical and Electronic Engineering
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: 2009
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/91739
http://hdl.handle.net/10220/4642
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

مواد مشابهة