Experimentally-based analytical model of deep-submicron LDD pMOSFET’s in a Bi-MOS hybrid-mode environment
The hybrid-mode operation of deep-submicron LDD pMOSFET’s has been investigated experimentally. Based on the experimental results, analytical models for the threshold voltage, the device currents, the transconductance, and the output conductance were derived. The various current components in this m...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Rofail, Samir S., Yeo, Kiat Seng |
---|---|
مؤلفون آخرون: | School of Electrical and Electronic Engineering |
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
2009
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/91739 http://hdl.handle.net/10220/4642 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
A temperature-dependent DC model for quarter-micron LDD pMOSFET’s operating in a Bi-MOS structure
بواسطة: Rofail, Samir S., وآخرون
منشور في: (2009) -
Effective channel length and external series resistance models of scaled LDD pMOSFETs operating in a Bi-MOS hybrid-mode environment
بواسطة: Seah, Lionel Siau Hing, وآخرون
منشور في: (2009) -
Experimental study of the Fowler-Nordheim tunneling induced degradation of LDD PMOSFET's
بواسطة: Pan, Y.
منشور في: (2014) -
Direct-current measurements of interface traps and oxide charges in LDD pMOSFETs with an n-well structure
بواسطة: Jie, B.B., وآخرون
منشور في: (2014) -
Flicker noise fluctuations in deep submicron MOSFETs
بواسطة: Chew, Johnny Kok Wai
منشور في: (2010)