Effect of surface conditions on the measurement of minority carrier diffusion lengths using the surface photovoltage technique

10.1117/12.405371

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Zhang, Z., Tan, L.S., Koh, S.M., Liu, H.M., Flottmann, D.
مؤلفون آخرون: ELECTRICAL ENGINEERING
التنسيق: Conference or Workshop Item
منشور في: 2014
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/72597
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore

مواد مشابهة