Ion beam synthesis of silicon carbide
Formation and crystallization of a thin near-surface layer of silicon carbide on a silicon substrate, created by ion-beam synthesis (IBS), are discussed. 80 and 40 keV carbon ions were implanted into a (1 0 0) high-purity p-type silicon substrate at room temperature and 400°C, respectively, using do...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | S. Intarasiri, A. Hallén, A. Razpet, S. Singkarat, G. Possnert |
---|---|
التنسيق: | Book Series |
منشور في: |
2018
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://www.scopus.com/inward/record.uri?partnerID=HzOxMe3b&scp=24944434772&origin=inward http://cmuir.cmu.ac.th/jspui/handle/6653943832/62283 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Ion beam synthesis of silicon carbide
بواسطة: Intarasiri S., وآخرون
منشور في: (2014) -
RBS and ERDA determinations of depth distributions of high-dose carbon ions implanted in silicon for silicon-carbide synthesis study
بواسطة: S. Intarasiri, وآخرون
منشور في: (2018) -
Effects of low-fluence swift iodine ion bombardment on the crystallization of ion-beam-synthesized silicon carbide
بواسطة: S. Intarasiri, وآخرون
منشور في: (2018) -
High-energy heavy ion beam annealing effect on ion beam synthesis of silicon carbide
بواسطة: J. Khamsuwan, وآخرون
منشور في: (2018) -
Characterization of the crystalline quality of β-SiC formed by ion beam synthesis
بواسطة: S. Intarasiri, وآخرون
منشور في: (2018)