Finite element analysis of plastic-encapsulated Multi-Chip Packages
Proceedings of the Electronic Packaging Technology Conference, EPTC
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Tay, A.A.O., Ong, S.H., Lee, L.W. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL ENGINEERING |
التنسيق: | مقال |
منشور في: |
2014
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/58289 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | National University of Singapore |
مواد مشابهة
-
Finite element analysis for microwave cure of underfill in flip chip packaging
بواسطة: Liu, L., وآخرون
منشور في: (2014) -
A finite element study of stresses developed in plastic encapsulated electronic packages during leadframe pull-out testing
بواسطة: Ng, Shioo Wat.
منشور في: (2008) -
Chemothermal modeling and finite-element analysis for microwave cure process of underfill in flip-chip packaging
بواسطة: Liu, L., وآخرون
منشور في: (2014) -
Determination of critical defect size for delamination failure of the pad/encapsulant interface of plastic IC packages undergoing solder reflow
بواسطة: Tay, A.A.O., وآخرون
منشور في: (2014) -
The effect of moisture on the critical defect size for delamination failure at the pad/encapsulant interface of plastic IC packages undergoing solder reflow
بواسطة: Tay, A.A.O., وآخرون
منشور في: (2014)