Reliable and accurate temperature measurement using scanning thermal microscopy with double lock-in amplification

10.1109/IRPS.2009.5173354

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلفون الرئيسيون: Ho, H.W., Zheng, X.H., Phang, J.C.H., Balk, L.J.
مؤلفون آخرون: ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING
التنسيق: Conference or Workshop Item
منشور في: 2014
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/71609
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: National University of Singapore

مواد مشابهة