Reliable and accurate temperature measurement using scanning thermal microscopy with double lock-in amplification
10.1109/IRPS.2009.5173354
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Ho, H.W., Zheng, X.H., Phang, J.C.H., Balk, L.J. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING |
التنسيق: | Conference or Workshop Item |
منشور في: |
2014
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/71609 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | National University of Singapore |
مواد مشابهة
-
Scanning Thermal Microscopy Methodology for Accurate and Reliable Thermal Measurement
بواسطة: HO HENG WAH
منشور في: (2013) -
Characterization of electromigration defects using scanning thermal microscopy
بواسطة: ZHENG XINHUA
منشور في: (2010) -
Dedicated near-field microscopies for electronic materials and devices
بواسطة: Balk, L.J., وآخرون
منشور في: (2014) -
Effects of pupil filter patterns in line-scan focal modulation microscopy
بواسطة: Shen, Shuhao, وآخرون
منشور في: (2018) -
Study of implanted boron distribution in p+n structures using scanning capacitance microscopy
بواسطة: Teo, Y.L., وآخرون
منشور في: (2014)