Optical properties of silicon nanocrystals embedded in a SiO2 matrix
Optical properties of isolated silicon nanocrystals (nc-Si) with a mean size of ∼4 nm embedded in a SiO2 matrix that was synthesized with an ion beam technique have been determined with spectroscopic ellipsometry in the photon energy range of 1.1–5.0 eV. The optical properties of the nc-Si are foun...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Ding, Liang, Chen, Tupei, Liu, Yang, Ng, Chi Yung, Fung, Stevenson Hon Yuen |
---|---|
مؤلفون آخرون: | School of Electrical and Electronic Engineering |
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
2010
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/91319 http://hdl.handle.net/10220/6358 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Thermal annealing effect on the band gap and dielectric functions of silicon nanocrystals embedded in SiO2 matrix
بواسطة: Ding, Liang, وآخرون
منشور في: (2010) -
Charging mechanism in a SiO2 matrix embedded with Si nanocrystals
بواسطة: Fu, Yong Qing, وآخرون
منشور في: (2010) -
Optical and optoelectronic properties of Si nanocrystals embedded in dielectric matrix
بواسطة: Ding, Liang
منشور في: (2009) -
Static dielectric constant of isolated silicon nanocrystals embedded in a SiO2 thin film
بواسطة: Ng, Chi Yung, وآخرون
منشور في: (2010) -
Influence of silicon-nanocrystal distribution in SiO2 matrix on charge injection and charge decay
بواسطة: Tseng, Ampere A., وآخرون
منشور في: (2010)