An extended unified Schottky-Poole-Frenkel theory to explain the current-voltage characteristics of capacitors using high-k dielectric materials

Historically, there is a controversy regarding the current-voltage (I-V) characteristics of thin film MIM (metal-insulator-metal) capacitors, which is quite frequently modeled by either the Schottky model or the Poole-Frenkel model. In this letter, the author points out that the two models actually...

وصف كامل

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Lau, Wai Shing.
مؤلفون آخرون: School of Electrical and Electronic Engineering
التنسيق: مقال
اللغة:English
منشور في: 2013
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:https://hdl.handle.net/10356/100826
http://hdl.handle.net/10220/11050
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
المؤسسة: Nanyang Technological University
اللغة: English

مواد مشابهة