GaN HEMTs device modeling in high-power and high-frequency applications
Wide Band Gap semiconductor devices are widely used in the high-power and high-frequency applications. Power GaN HEMTs attract the attentions of many power device and circuit designers to achieve better chip performance. However, the investigation and improvement of GaN HEMTs are time-consuming and...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Zhang, Juncheng |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Zheng Yuanjin |
التنسيق: | Thesis-Master by Coursework |
اللغة: | English |
منشور في: |
Nanyang Technological University
2025
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/182475 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Analytical modelling of high temperature characteristics on the DC responses for Schottky-gate AlGaN/GaN HEMT devices
بواسطة: Wang, Y.-H., وآخرون
منشور في: (2014) -
AlGaN/GaN HEMT-based ultraviolet photodetectors with enhanced device efficiency
بواسطة: Ahmed Salah Hawash Razeen
منشور في: (2024) -
Fabrication and characterization of AIGaN/GaN HEMTs
بواسطة: HOY KIN MENG, DERRICK
منشور في: (2010) -
Investigation of self-heating effect on DC and RF performances in AlGaN/GaN HEMTs on CVD-Diamond
بواسطة: Ranjan, Kumud, وآخرون
منشور في: (2020) -
Effects of gate field plates on the surface state related current collapse in AlGaN/GaN HEMTs
بواسطة: Huang, H., وآخرون
منشور في: (2014)