Computer simulation and modelling of electrical characteristics of ferroelectric films for device applications
Ferroelectric thin film materials have attractive properties such as high dielectric constant and reversible, large remnant polarisation. These properties have made these materials attractive in applications, namely in the areas of non-volatile random access memory (NV-RAM) and ultra-high density dy...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Lee, Teng Mong. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Zhu, Weiguang |
التنسيق: | Theses and Dissertations |
اللغة: | English |
منشور في: |
2008
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10356/13283 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |
مواد مشابهة
-
Thickness-dependent evolutions of domain configuration and size in ferroelectric and ferroelectric-ferroelastic films
بواسطة: Huang, C. W., وآخرون
منشور في: (2013) -
Improved pentacene device characteristics with sol–gel SiO2 dielectric films
بواسطة: Cahyadi, Tommy, وآخرون
منشور في: (2013) -
Fabrication of electron transparent 2D device for atomic scale electrical potential mapping in a TEM
بواسطة: Lim, Ming Han
منشور في: (2022) -
Modification and processing of poly (vinylidene fluoride) (PVDF)-based Polymers towards ferroelectric thin films
بواسطة: Yee, Wu Aik.
منشور في: (2008) -
Low-voltage organic ferroelectric field effect transistors using Langmuir–Schaefer films of poly(vinylidene fluoride-trifluororethylene)
بواسطة: Nguyen, Chien A., وآخرون
منشور في: (2012)