Nickel silicidation on polycrystalline silicon germanium films
International Journal of Modern Physics B
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Choi, W.K., Pey, K.L., Zhao, H.B., Osipowicz, T., Shen, Z.X. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING |
التنسيق: | Conference or Workshop Item |
منشور في: |
2014
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/84011 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | National University of Singapore |
مواد مشابهة
-
Microstructural characterization of rf sputtered polycrystalline silicon germanium films
بواسطة: Choi, W.K., وآخرون
منشور في: (2014) -
Micro-Raman spectroscopy investigation of nickel silicides and nickel (platinum) silicides
بواسطة: Lee, P.S., وآخرون
منشور في: (2014) -
X-ray diffraction and Raman studies of rf sputtered polycrystalline silicon germanium films
بواسطة: Leoy, C.C., وآخرون
منشور في: (2011) -
Rapid thermal oxidation of radio frequency sputtered polycrystalline silicon germanium films
بواسطة: Choi, W.K., وآخرون
منشور في: (2014) -
Micro-Raman spectroscopy investigation of nickel silicides and nickel (platinum) silicides
بواسطة: Mangelinck, D., وآخرون
منشور في: (2012)