Deep level effects on the characteristics of high electron mobility transistors grown by solid source MBE

This thesis presents the effect of deep levels on the performance of InxGa1-xP/In0.20Ga0.80As/GaAs and AlyGa1-yAs/In0.20Ga0.80As/GaAs pseudomorphic high electron mobility transistor (pHEMT) grown by solid source molecular beam epitaxy (SSMBE).

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
المؤلف الرئيسي: Yip, Kim Hong.
مؤلفون آخرون: Yoon, Soon Fatt
التنسيق: Theses and Dissertations
منشور في: 2008
الموضوعات:
الوصول للمادة أونلاين:http://hdl.handle.net/10356/3902
الوسوم: إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!

مواد مشابهة