Deep level effects on the characteristics of high electron mobility transistors grown by solid source MBE
This thesis presents the effect of deep levels on the performance of InxGa1-xP/In0.20Ga0.80As/GaAs and AlyGa1-yAs/In0.20Ga0.80As/GaAs pseudomorphic high electron mobility transistor (pHEMT) grown by solid source molecular beam epitaxy (SSMBE).
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Yip, Kim Hong. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Yoon, Soon Fatt |
التنسيق: | Theses and Dissertations |
منشور في: |
2008
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10356/3902 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Characterization of InP based high electron mobility transistor structures grown by solid source MBE
بواسطة: Too, Patrick Heng Kwee.
منشور في: (2008) -
Realization of two dimensional electron gas in AlGaN/GaN HEMT structure grown on Si (111) by PA-MBE
بواسطة: Sun, Z. Z., وآخرون
منشور في: (2011) -
Ga-bilayer controlled AlGaN/GaN HEMT structure grown on Si by PA-MBE
بواسطة: Agrawal, M., وآخرون
منشور في: (2011) -
Monolithic integration of heterojunction bipolar transistors and high electron mobility transistors
بواسطة: Radhakrishnan, K., وآخرون
منشور في: (2008) -
Study of surface microtopography of InAlAs/InP heterostructures grown by MBE
بواسطة: Taijing, L., وآخرون
منشور في: (2014)