High frequency measurement of dielectric properties for packaging materials
This thesis summarizes the purpose and milestones covered in the process of carrying out the project. Essentially, the project proposes to develop and implement a suitable method to measure the complex permittivity of thin (l-3mm) packaging materials used in the microelectronics industry. Apart from...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Lim, Ying Ying |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Mihai Dragos Rotaru |
التنسيق: | Theses and Dissertations |
منشور في: |
2008
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/4699 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
مواد مشابهة
-
High frequency electrical properties of copper interconnects patterned by resolution enhanced lithography
بواسطة: Rakesh Kumar
منشور في: (2008) -
Measurement of residual stress developed during advanced semiconductor packaging process
بواسطة: Huang, Guanbo.
منشور في: (2009) -
Electrical characterization of IC packages
بواسطة: Guruprasad B. G.
منشور في: (2008) -
Automated visual inspection of IC packages
بواسطة: U Maung Maung Thet
منشور في: (2008) -
Nondestructive evaluation interfaces defects IC packaging
بواسطة: Guo, Ningqun., وآخرون
منشور في: (2008)