Schottky barrier engineering on dopant-segregated schottky silicon nanowire MOSFETs
Silicon nanowire with Gate-All-Around architecture is considered as one of the most promising candidates for CMOS scaling beyond 11 nm technology node due to its superior gate to channel electrostatic control. However, due to the one dimensional nature of nanowire, the resistance at the nanowire sou...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Chin, Yoke King |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Pey Kin Leong |
التنسيق: | Theses and Dissertations |
اللغة: | English |
منشور في: |
2013
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/53206 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |
مواد مشابهة
-
Study of erbium disilicide and its application in Schottky source/drain silicon nanowire MOSFETs
بواسطة: Tan, Eu Jin
منشور في: (2010) -
Demonstration of Schottky barrier NMOS transistors with erbium silicided source/drain and silicon nanowire channel
بواسطة: Cui, Guangda, وآخرون
منشور في: (2012) -
Schottky barrier height in germanide/Ge contacts and its engineering through germanidation induced dopant segregation
بواسطة: Chi, D.Z., وآخرون
منشور في: (2014) -
Erbium silicided schottky source/drain silicon nanowire N-metal–oxide–semiconductor field-effect transistors
بواسطة: Tan, Eu Jin, وآخرون
منشور في: (2013) -
Effect of nickel silicide induced dopant segregation on vertical silicon nanowire diode performance
بواسطة: Tan, Chuan Seng, وآخرون
منشور في: (2014)