Compact modeling for GaN HEMT devices
This thesis presents a compact model developed for generic High Electron Mobility Transistors (HEMTs). The model is based on unified regional modeling (URM) of the 2-dimensional electron gas (2-DEG) charge density, including the two lowest sub-bands of the triangular well in the strong inversion...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Binit Syamal |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Zhou Xing |
التنسيق: | Theses and Dissertations |
اللغة: | English |
منشور في: |
2017
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10356/70216 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Multi-trap energy states in GaN HEMTs : characterization and modeling
بواسطة: Binit Syamal, وآخرون
منشور في: (2020) -
Unified regional modeling of GaN HEMTs with the 2DEG and DD formalism
بواسطة: Zhang, Junbin, وآخرون
منشور في: (2013) -
The temperature dependent TCAD and SPICE modeling of AlGaN/GaN HEMTs
بواسطة: Yuan, Li, وآخرون
منشور في: (2013) -
Compact model characteristics for generic MIS-HEMTs
بواسطة: Chiah, Siau Ben, وآخرون
منشور في: (2019) -
Analytical models for channel potential and drain current in AlGaN/GaN HEMT devices
بواسطة: Qian, Haisheng, وآخرون
منشور في: (2020)