Strain profile and size dependent electronic band structure of GeSn/SiSn quantum dots for optoelectronic application
We study self-assembled GeSn/SiSn quantum dots for optoelectronic application in the Silicon photonics domain. Valence force field and k.p methods are used to investigate the strain distribution and band structure with size effect.
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Tan, Chuan Seng, Bose, Sumanta, Fan, W. J., Chen, J., Zhang, D. H. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | School of Electrical and Electronic Engineering |
التنسيق: | Conference or Workshop Item |
اللغة: | English |
منشور في: |
2015
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/79533 http://hdl.handle.net/10220/25017 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Strain-relaxed GeSn-on-insulator (GeSnOI) microdisks
بواسطة: Burt, Daniel, وآخرون
منشور في: (2022) -
Tensile strained direct bandgap GeSn microbridges enabled in GeSn-on-insulator substrates with residual tensile strain
بواسطة: Burt, Daniel, وآخرون
منشور في: (2023) -
Enhanced GeSn microdisk lasers directly released on Si
بواسطة: Kim, Youngmin, وآخرون
منشور في: (2022) -
Monolithic infrared silicon photonics: the rise of (Si)GeSn semiconductors
بواسطة: Moutanabbir, Oussama, وآخرون
منشور في: (2023) -
Strain-free GeSn nanomembranes enabled by transfer-printing techniques for advanced optoelectronic applications
بواسطة: Tai, Yeh-Chen, وآخرون
منشور في: (2021)