Interfacial reaction between Sn-rich solders and Ni-based metallization
Solid state reaction between Sn-rich solders (Sn–3.5Ag and Sn–37Pb) and two types of Ni-based metallization (electroless Ni–P and sputtered Ni) has been studied. The growth rates of the main intermetallic compound (IMC), Ni3Sn4, at different aging temperatures are obtained and the activation energy...
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Kumar, A., Yeo, P. T., He, Min, Qi, Guojun, Chen, Zhong |
---|---|
مؤلفون آخرون: | School of Materials Science & Engineering |
التنسيق: | مقال |
اللغة: | English |
منشور في: |
2012
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://hdl.handle.net/10356/94701 http://hdl.handle.net/10220/8149 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
اللغة: | English |
مواد مشابهة
-
Solid state interfacial reaction of Sn–37Pb and Sn–3.5Ag solders with Ni–P under bump metallization
بواسطة: He, Min, وآخرون
منشور في: (2012) -
Morphology and kinetic study of the interfacial reaction between the Sn-3.5Ag solder and electroless Ni-P metallization
بواسطة: Chen, Zhong, وآخرون
منشور في: (2013) -
Effect of electromigration on interfacial reactions between electroless Ni-P and Sn–3.5% Ag solder
بواسطة: Kumar, A., وآخرون
منشور في: (2012) -
Intermetallic compound formation between Sn–3.5Ag solder and Ni-based metallization during liquid state reaction
بواسطة: He, Min, وآخرون
منشور في: (2012) -
Effect of interfacial reaction on the tensile strength of Sn-3.5Ag/Ni-P and Sn-37Pb/Ni-P solder joints
بواسطة: Qi, Guojun, وآخرون
منشور في: (2013)