Modelling temperature dependence on AlGaN/GaN power HEMT device characteristics
10.1088/0268-1242/28/12/125010
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Wang, Y.-H., Liang, Y.C., Samudra, G.S., Chang, T.-F., Huang, C.-F., Yuan, L., Lo, G.-Q. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING |
التنسيق: | مقال |
منشور في: |
2014
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/82715 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Modelling of temperature dependence on current collapse phenomenon in AlGaN/GaN HEMT devices
بواسطة: Samudra, G.S., وآخرون
منشور في: (2014) -
AlGaN/GaN power HEMT devices for future energy conversion applications
بواسطة: Liang, Y.C., وآخرون
منشور في: (2014) -
Phenomenon of drain current instability on p-GaN gate AlGaN/GaN HEMTs
بواسطة: Chang, T.-F., وآخرون
منشور في: (2016) -
Theoretical calculation and efficient simulations of power semiconductor AlGaN/GaN HEMTs
بواسطة: Huang, H., وآخرون
منشور في: (2014) -
Analytical modelling of high temperature characteristics on the DC responses for Schottky-gate AlGaN/GaN HEMT devices
بواسطة: Wang, Y.-H., وآخرون
منشور في: (2014)