Improvement on lithography pattern profile by plasma treatment
Journal of Vacuum Science and Technology A: Vacuum, Surfaces and Films
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Soo, C.P., Bourdillon, A.J., Valiyaveettil, S., Huan, A., Wee, A., Fan, M.H., Ang, T.C., Chan, L.H. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | PHYSICS |
التنسيق: | مقال |
منشور في: |
2014
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/94011 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Enhancement or reduction of catalytic dissolution reaction in chemically amplified resists by substrate contaminants
بواسطة: Soo, C.P., وآخرون
منشور في: (2014) -
Synthesis and characterization of novel multifunctional poly(methyl methacrylate)s as potential fluorescent labels for electron-beam lithography
بواسطة: Liao, S., وآخرون
منشور في: (2014) -
Elimination of 'bottom pinching' effect in environmentally stable chemically amplified resist
بواسطة: Soo, C.P., وآخرون
منشور في: (2014) -
Demagnification-by-bias in proximity X-ray lithography
بواسطة: Ren, Kong Jong, وآخرون
منشور في: (2014) -
Lithography in UV photoresist using NSOM
بواسطة: Lin, Y., وآخرون
منشور في: (2014)