Electrical design, modelling and optimization of a low-cost wafer level chip scale package (WL-CSP)
This report presented the design of a Wafer Level Chip-Scale Package (WL-CSP) using a patented UTAC’s Build Up (UBU) technology, which is a low-cost packaging process with a redistribution layer. From various papers, it had been shown that WL-CSP has superior electrical performance over conventional...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Low, Hong Guan. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | Koh, Liang Mong |
التنسيق: | Theses and Dissertations |
منشور في: |
2008
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10356/4811 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | Nanyang Technological University |
مواد مشابهة
-
Low temperature InP (chip) / Al2O3 / Si (wafer) direct bonding
بواسطة: Lin, Yiding
منشور في: (2015) -
Studies of wafer level electromigration test for ULSI
بواسطة: Sum, Heng Keong.
منشور في: (2008) -
Compliant Chip-to-Package Interconnects for Wafer Level Packaging
بواسطة: LIAO EBIN
منشور في: (2011) -
A dielectrophoretic chip packaged at wafer level
بواسطة: Iliescu, C., وآخرون
منشور في: (2014) -
Wafer level electromigration reliability study of deep submicron via for multilevel metallization
بواسطة: Loh, Wye Boon.
منشور في: (2008)