Study on trapping effects in AlGaN/GaN-on-Si devices with vertical interconnect structures
10.1149/2.0131711jss
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Chang, T.-F, Chang, C.-Y, Huang, C.-F, Liang, Y.C, Samudra, G.S, Lin, R.-M |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL AND COMPUTER ENGINEERING |
التنسيق: | Editorial |
منشور في: |
Electrochemical Society
2020
|
الوصول للمادة أونلاين: | https://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/183553 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Phenomenon of drain current instability on p-GaN gate AlGaN/GaN HEMTs
بواسطة: Chang, T.-F., وآخرون
منشور في: (2016) -
AlGaN/GaN power HEMT devices for future energy conversion applications
بواسطة: Liang, Y.C., وآخرون
منشور في: (2014) -
Theoretical calculation and efficient simulations of power semiconductor AlGaN/GaN HEMTs
بواسطة: Huang, H., وآخرون
منشور في: (2014) -
Modelling temperature dependence on AlGaN/GaN power HEMT device characteristics
بواسطة: Wang, Y.-H., وآخرون
منشور في: (2014) -
Effects of gate field plates on the surface state related current collapse in AlGaN/GaN HEMTs
بواسطة: Huang, H., وآخرون
منشور في: (2014)