Studies of gallium nitride high electron mobility transistors
Gallium Nitride (GaN) is a Group III/V wide bandgap nitride-based material that possesses many unique properties, which pushes semiconductor device performances to newer limits. This has been attracting attention in both the engineering field and the commercial semiconductor industry. With the abili...
محفوظ في:
المؤلف الرئيسي: | Goh, Basil Yan Kun |
---|---|
مؤلفون آخرون: | School of Electrical and Electronic Engineering |
التنسيق: | Final Year Project |
اللغة: | English |
منشور في: |
2016
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://hdl.handle.net/10356/67994 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
Studies of gallium nitride high electron mobility transistors (HEMTs)
بواسطة: Tie, Keven Guo Sheng
منشور في: (2022) -
Studies of Gallium Nitride (GaN) based High Electron Mobility Transistors (HEMTs)
بواسطة: Ong, Zi Kai
منشور في: (2020) -
Studies of gallium nitride (GaN) based high electron mobility transistor (HEMTS)
بواسطة: Ong, Eugene Wei Han
منشور في: (2024) -
FABRICATION AND CHARACTERIZATION OF GALLIUM NITRIDE HIGH ELECTRON MOBILITY TRANSISTOR (HEMT)
بواسطة: LIU JINGWEI
منشور في: (2019) -
Analysis of high power gallium nitride based high electron mobility transistors for next generation electronics applications
بواسطة: Vompolu, Ganesh Sampath
منشور في: (2019)