Source/drain engineering for In0.7Ga0.3As N-channel metal-oxide-semiconductor field-effect transistors. Raised source/drain with in situ doping for series resistance reduction
10.1143/JJAP.50.04DF01
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Gong, X., Chin, H.-C., Koh, S.-M., Wang, L., Ivana, Zhu, Z., Wang, B., Chia, C.K., Yeo, Y.-C. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING |
التنسيق: | مقال |
منشور في: |
2014
|
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/83039 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
مواد مشابهة
-
In0.7Ga0.3 as channel n-MOSFET with self-aligned Ni-InGaAs source and drain
بواسطة: Zhang, X., وآخرون
منشور في: (2014) -
Germanium multiple-gate field-effect transistor with in situ boron-doped raised source/drain
بواسطة: Liu, B., وآخرون
منشور في: (2014) -
In 0.53Ga 0.47As n-channel metal-oxide-semiconductor field-effect transistors with shallow metallic source and drain extensions and offset N + Doped Regions for Leakage Suppression
بواسطة: Zhu, Z., وآخرون
منشور في: (2014) -
Lattice-mismatched In0.4Ga0.6As Source/Drain stressors with In Situ doping for strained In0.53 Ga0.47 as channel n-MOSFETs
بواسطة: Chin, H.-C., وآخرون
منشور في: (2014) -
Ultra-thin-body In 0.7Ga 0.3As-on-nothing N-MOSFET with Pd-InGaAs source/drain contacts enabled by a new self-aligned cavity formation technology
بواسطة: Gong, X., وآخرون
منشور في: (2014)