Work function tuning of metal nitride electrodes for advanced CMOS devices
10.1016/j.tsf.2005.09.081
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Ren, C., Faizhal, B.B., Chan, D.S.H., Li, M.-F., Yeo, Y.-C., Trigg, A.D., Balasubramanian, N., Kwong, D.-L. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL & COMPUTER ENGINEERING |
التنسيق: | Conference or Workshop Item |
منشور في: |
2014
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | http://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/84367 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | National University of Singapore |
مواد مشابهة
-
Work function tuning and material characteristics of lanthanide-incorporated metal nitride gate electrodes for NMOS device applications
بواسطة: Ren, C., وآخرون
منشور في: (2014) -
Work function and process integration issues of metal gate materials in CMOS technology
بواسطة: REN CHI
منشور في: (2011) -
Three-layer laminated metal gate electrodes with tunable work functions for CMOS applications
بواسطة: Bai, W.P., وآخرون
منشور في: (2014) -
An integratable dual metal gate CMOS process using an ultrathin aluminum nitride buffer layer
بواسطة: Park, C.S., وآخرون
منشور في: (2014) -
Feasibility study of using thin aluminum nitride film as a buffer layer for dual metal gate process
بواسطة: Park, C.S., وآخرون
منشور في: (2014)