A Threshold Voltage Model for Charge Trapping Effect of AlGaN/GaN HEMTs
10.1109/ACCESS.2019.2937545
محفوظ في:
المؤلفون الرئيسيون: | Jia, Y., Wen, Z., Chen, Y., Xie, C.-C., Guo, Y.-X., Xu, Y. |
---|---|
مؤلفون آخرون: | ELECTRICAL AND COMPUTER ENGINEERING |
التنسيق: | مقال |
منشور في: |
Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.
2021
|
الموضوعات: | |
الوصول للمادة أونلاين: | https://scholarbank.nus.edu.sg/handle/10635/212344 |
الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|
المؤسسة: | National University of Singapore |
مواد مشابهة
-
Design of novel normally-off AlGaN/GaN HEMTs with combined gate recess and floating charge structures
بواسطة: Huang, H., وآخرون
منشور في: (2014) -
AlN/GaN/AlGaN-on-Si HEMT achieving 1.3 W/mm at 5 v for 5G FR2 handsets
بواسطة: Li, Hanchao, وآخرون
منشور في: (2025) -
GaN HEMTs device modeling in high-power and high-frequency applications
بواسطة: Zhang, Juncheng
منشور في: (2025) -
Stress evolution of GaN/AlN heterostructure grown on 6H-SiC substrate by plasma assisted molecular beam epitaxy
بواسطة: Agrawal, Manvi, وآخرون
منشور في: (2017) -
Ga-bilayer controlled AlGaN/GaN HEMT structure grown on Si by PA-MBE
بواسطة: Agrawal, M., وآخرون
منشور في: (2011)